Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences - - Knihy - Springer Nature Switzerland AG - 9783030092986 - 04. januára 2019
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences Softcover Reprint of the Original 1st 2018 edition

Cena
€ 218,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 2. - 10. dec
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 04. januára 2019
ISBN13 9783030092986
Vydavatelia Springer Nature Switzerland AG
Strany 521
Rozmery 150 × 220 × 10 mm   ·   757 g
Jazyk Nemčina  
Editor Glatzel, Thilo
Editor Sadewasser, Sascha

Viac od toho istého vydavateľa