Design and Test Technology for Dependable Systems-on-chip (Premier Reference Source) - Raimund Ubar - Knihy - IGI Global - 9781609602123 - 31. marca 2011
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Design and Test Technology for Dependable Systems-on-chip (Premier Reference Source) 1. vydanie

Cena
€ 197,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 31. júl - 14. aug
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Raimund Ubar
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Designing reliable and dependable embedded systems has become increasingly important as the failure of these systems in an automotive, aerospace or nuclear application can have serious consequences.

Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip covers aspects of system design and efficient modelling, and also introduces various fault models and fault mechanisms associated with digital circuits integrated into System on Chip (SoC), Multi-Processor System-on Chip (MPSoC) or Network on Chip (NoC). This book provides insight into refined "classical" design and test topics and solutions for IC test technology and fault-tolerant systems.

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 31. marca 2011
ISBN13 9781609602123
Vydavatelia IGI Global
Strany 578
Rozmery 218 × 284 × 36 mm   ·   1,61 kg
Jazyk Angličtina  
Prispievateľ Heinrich Theodor Vierhaus
Prispievateľ Jaan Raik
Prispievateľ Raimund Ubar

Viac od Raimund Ubar

Zobraziť všetko

Viac od toho istého vydavateľa