Bias Temperature Instability for Devices and Circuits - - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493955299 - 01. októbra 2016
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition

Cena
€ 108,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 8. - 16. okt

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

821 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 01. októbra 2016
ISBN13 9781493955299
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 810
Rozmery 150 × 220 × 10 mm   ·   1,37 kg
Jazyk Angličtina  
Editor Grasser, Tibor

Viac od toho istého vydavateľa