Povedzte o tejto položke priateľom:
Microelectronic Test Structures for Cmos Technology Manjul Bhushan
Microelectronic Test Structures for Cmos Technology
Manjul Bhushan
Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.
373 pages, 37 black & white tables, biography
| Médium | Knihy Paperback Book (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom) |
| Vydané | 01. októbra 2014 |
| ISBN13 | 9781489990556 |
| Vydavatelia | Springer-Verlag New York Inc. |
| Strany | 373 |
| Rozmery | 155 × 235 × 21 mm · 566 g |
| Jazyk | Angličtina |
Viac od Manjul Bhushan
Zobraziť všetkoViac od toho istého vydavateľa
Pozrieť všetko od Manjul Bhushan