Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489985101 - 28. novembra 2014
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Rajesh Garg
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

Cena
€ 108,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 29. okt - 6. nov
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Rajesh Garg

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.

212 pages, 28 black & white tables, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 28. novembra 2014
ISBN13 9781489985101
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 212
Rozmery 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Rajesh Garg