Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies - Alberto Bosio - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489983145 - 03. septembra 2014
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies 2010 edition

Cena
€ 101,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 8. - 16. okt
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Alberto Bosio
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.


171 pages, 22 black & white tables, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 03. septembra 2014
ISBN13 9781489983145
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 171
Rozmery 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa