Thermal Stress and Strain in Microelectronics Packaging - John Lau - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781468477696 - 30. apríla 2012
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Thermal Stress and Strain in Microelectronics Packaging Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Cena
€ 150,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 30. nov - 8. dec
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta John Lau
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Microelectronics packaging and interconnection have experienced exciting growth stimulated by the recognition that systems, not just silicon, provide the solution to evolving applications.


884 pages, 466 black & white illustrations

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 30. apríla 2012
ISBN13 9781468477696
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 884
Rozmery 152 × 229 × 45 mm   ·   1,19 kg
Jazyk Angličtina  
Editor Lau, John

Viac od toho istého vydavateľa