Povedzte o tejto položke priateľom:
Advances in X-Ray Analysis: Volume 22 Gregory J Mccarthy Softcover reprint of the original 1st ed. 1979 edition
Advances in X-Ray Analysis: Volume 22
Gregory J Mccarthy
In keeping with recent practice, this year's Denver Conference on Applications of X-ray Analysis emphasized x-ray diffraction and was co-sponsored by JCPDS, International Center for Diffraction Data.
492 pages, biography
| Médium | Knihy Paperback Book (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom) |
| Vydané | 12. decembra 2012 |
| ISBN13 | 9781461399896 |
| Vydavatelia | Springer-Verlag New York Inc. |
| Strany | 492 |
| Rozmery | 170 × 244 × 26 mm · 807 g |
| Jazyk | Angličtina |
| Editor | McCarthy, Gregory J. |
Viac od Gregory J Mccarthy
Zobraziť všetkoViac od toho istého vydavateľa
Pozrieť všetko od Gregory J Mccarthy