Reliability, Yield, and Stress Burn-in: a Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development - Way Kuo - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375968 - 14. marca 2014
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Reliability, Yield, and Stress Burn-in: a Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition

Cena
€ 181,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 10. - 24. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Way Kuo
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

420 pages, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 14. marca 2014
ISBN13 9781461375968
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 420
Rozmery 155 × 235 × 22 mm   ·   589 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa