Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing - Erik Larsson - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952691 - 02. februára 2011
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Erik Larsson
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

Cena
€ 149,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 12. - 20. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Erik Larsson

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.

388 pages, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 02. februára 2011
Pôvodný dátum vydania 2010
ISBN13 9781441952691
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 388
Rozmery 150 × 220 × 10 mm   ·   571 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa

Pozrieť všetko od Erik Larsson