High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics - Ullrich Pietsch - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923073 - 12. decembra 2011
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics 2nd ed. 2004. Softcover reprint of the original 2n edition

Cena
€ 89,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 15. - 23. okt
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Ullrich Pietsch
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.


408 pages, 389 black & white illustrations, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 12. decembra 2011
ISBN13 9781441923073
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 408
Rozmery 155 × 235 × 22 mm   ·   594 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa