Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing - Erik Larsson - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402032073 - 07. novembra 2005
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

Cena
€ 149,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 12. - 20. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Erik Larsson
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.


388 pages, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 07. novembra 2005
ISBN13 9781402032073
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 388
Rozmery 156 × 232 × 23 mm   ·   1,09 kg
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa