A Simple Non-Destructive Method for Characterizing Nondispersive, Low-Loss Dielectrics - Thomas S Olney - Knihy - Biblioscholar - 9781249600619 - 10. októbra 2012
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Thomas S Olney
A Simple Non-Destructive Method for Characterizing Nondispersive, Low-Loss Dielectrics

Cena
€ 22,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 5. - 19. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Thomas S Olney

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

92 pages, Illustrations, black and white

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 10. októbra 2012
ISBN13 9781249600619
Vydavatelia Biblioscholar
Strany 92
Rozmery 189 × 246 × 5 mm   ·   136 g

Pozrieť všetko od Thomas S Olney