Povedzte o tejto položke priateľom:
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 - MRS Proceedings
Cena
€ 42,99
Objednané zo vzdialeného skladu
Očakávané doručenie 21. aug - 4. sep
Naši zákazníci hovoria:
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 - MRS Proceedings
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
514 pages, black & white illustrations
| Médium | Knihy Paperback Book (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom) |
| Vydané | 05. júna 2014 |
| ISBN13 | 9781107409484 |
| Vydavatelia | Cambridge University Press |
| Strany | 514 |
| Rozmery | 152 × 229 × 26 mm · 812 g (Hmotnosť (odhadovaná)) |
| Jazyk | Angličtina |
| Editor | Filter, William F. |
| Editor | Frost, Harold J. (Dartmouth College, New Hampshire) |
| Editor | Ho, Paul S. (University of Texas, Austin) |
| Editor | Rodbell, Kenneth P. (IBM T J Watson Research Center, New York) |
