Povedzte o tejto položke priateľom:
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography D.K. Bowen 1. vydanie
Cena
€ 292,49
Objednané zo vzdialeného skladu
Očakávané doručenie 30. okt - 13. nov
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta D.K. Bowen
Naši zákazníci hovoria:
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic
Tiež dostupné ako:
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
D.K. Bowen
The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.
264 pages, black & white illustrations
| Médium | Knihy Hardcover Book (Kniha s pevnou väzbou a obalom) |
| Vydané | 05. februára 1998 |
| ISBN13 | 9780850667585 |
| Vydavatelia | Taylor & Francis Ltd |
| Strany | 262 |
| Rozmery | 178 × 263 × 20 mm · 656 g |
| Jazyk | Angličtina |
