Applied Charged Particle Optics: Part III - Advances in Imaging and Electron Physics -  - Knihy - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780443471148 - 01. októbra 2026
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Applied Charged Particle Optics: Part III - Advances in Imaging and Electron Physics


Dostávať e-mail, keď bude položka k dispozícii
Do you have a profile? Prihlásiť sa
Vianočné darčeky je možné vrátiť do 31. januára
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 01. októbra 2026
ISBN13 9780443471148
Vydavatelia Elsevier Science Publishing Co Inc
Strany 258
Rozmery 150 × 220 × 20 mm   ·   450 g
Editor série Hytch, Martin (Senior Scientist, French National Centre for Research (CNRS), Toulouse, France)

Viac od toho istého vydavateľa