Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Manoj Sachdev - Knihy - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387465463 - 21. júna 2007
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 2nd ed. 2007 edition

Cena
€ 198,99

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 13. - 21. okt
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Manoj Sachdev
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.


328 pages, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 21. júna 2007
ISBN13 9780387465463
Vydavatelia Springer-Verlag New York Inc.
Strany 328
Rozmery 155 × 235 × 20 mm   ·   721 g
Jazyk Angličtina  

Viac od toho istého vydavateľa