Povedzte o tejto položke priateľom:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin 1986 edition
Do you have a profile? Prihlásiť sa
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Patrick Echlin
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic
Tiež dostupné ako:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
454 pages, biography
| Médium | Knihy Hardcover Book (Kniha s pevnou väzbou a obalom) |
| Vydané | 31. marca 1986 |
| ISBN13 | 9780306421402 |
| Vydavatelia | Springer Science+Business Media |
| Strany | 454 |
| Rozmery | 156 × 234 × 27 mm · 721 g |
| Jazyk | Angličtina |
Viac od Patrick Echlin
Zobraziť všetkoViac od toho istého vydavateľa
Pozrieť všetko od Patrick Echlin ( napr. Hardcover Book a Paperback Book )