Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Knihy - Springer Science+Business Media - 9780306421402 - 31. marca 1986
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 1986 edition


Dostávať e-mail, keď bude položka k dispozícii
Do you have a profile? Prihlásiť sa
Dostávajte upozornenia na nové nahrávky interpreta Patrick Echlin
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Not rated yet

Tiež dostupné ako:

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


454 pages, biography

Médium Knihy     Hardcover Book   (Kniha s pevnou väzbou a obalom)
Vydané 31. marca 1986
ISBN13 9780306421402
Vydavatelia Springer Science+Business Media
Strany 454
Rozmery 156 × 234 × 27 mm   ·   721 g
Jazyk Angličtina  

Viac od Patrick Echlin

Zobraziť všetko

Viac od toho istého vydavateľa