Defect Studies in III-V Semicon - Elsayed - Knihy - - 9783659452192 -
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Elsayed
Defect Studies in III-V Semicon

Dostávať e-mail, keď bude položka k dispozícii
Do you have a profile? Prihlásiť sa

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic
Médium Knihy     Book
ISBN13 9783659452192
Rozmery 150 × 220 × 20 mm   ·   268 g
Jazyk Nemčina  

Viac od Elsayed

Zobraziť všetko

Pozrieť všetko od Elsayed ( napr. Book )