Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - Knihy - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642093418 - 30. novembra 2010
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Cena
€ 108,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 25. jún - 3. júl

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

Tiež dostupné ako:

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

446 pages, 25 black & white tables, biography

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 30. novembra 2010
ISBN13 9783642093418
Vydavatelia Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strany 387
Rozmery 155 × 235 × 23 mm   ·   674 g
Jazyk Nemčina  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald
Editor Tomitori, Masahiko

Mere med samme udgiver