Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology -  - Knihy - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065965 - 12. februára 2010
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Cena
€ 108,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 30. jún - 8. júl
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Médium Knihy     Paperback Book   (Kniha s mäkkou väzbou a lepeným chrbtom)
Vydané 12. februára 2010
ISBN13 9783642065965
Vydavatelia Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Strany 378
Rozmery 155 × 235 × 21 mm   ·   639 g
Jazyk Nemčina  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver