Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - - Knihy - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156114 - 24. augusta 2019
V prípade, že obal a názov nesedia, platí názov

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics 1st ed. 2019 edition

Cena
€ 179,49

Objednané zo vzdialeného skladu

Očakávané doručenie 8. - 16. jún

Naši zákazníci hovoria:

14-dňová lehota na vrátenie podľa európskej legislatívy o ochrane spotrebiteľa
Najvyššie hodnotenie na Trustpilot
Pridať do vášho zoznamu prianí na iMusic

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

Médium Knihy     Book
Vydané 24. augusta 2019
ISBN13 9783030156114
Vydavatelia Springer Nature Switzerland AG
Strany 408
Rozmery 150 × 220 × 20 mm   ·   805 g
Jazyk Nemčina  
Editor Celano, Umberto

Mere med samme udgiver